| 【日時】 | ２０２０年１１月６日（金） ９：００ ～ ２０２１年１月１６日（土） ２３：５９ |
| 【場所】 | Webオンライン視聴 |
| 【主催】 | 一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
| 【タイトル】 | 出展者セミナー：「製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について」 |
| 【講演者】 | 藤島 光城 氏 IAF CLiC KPI分科会 主査 (三菱電機株式会社) |
| 【趣旨】 | ２０２０年１０月２３日に出展者セミナーの講演を行った「計測展2020 OSAKA」の全コンテンツを無料でオンライン視聴ができる 「計測展オンライン・プラス」が約２か月間開催されます。 □申し込みサイト |