| 【日時】 | ２０２０年１０月２３日（金） １３：００～１３：４０ |
| 【場所】 | グランキューブ大阪（中之島・大阪国際会議場） 1006・1007会議場 |
| 【主催】 | 一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
| 【タイトル】 | 製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について |
| 【講演者】 | 藤島 光城 氏 IAF CLiC KPI分科会 主査 （三菱電機株式会社） |
| 【趣旨】 | 製造現場のIoT化（スマート製造）において、何をいつまでにどの程度の投資で効果があり、 どこまでIoT化が推進できたか見える化ができてないため、経営側の投資判断が難しい課題がある。 そこで製造現場のIoT化の評価指標「SMKL」を定義し、推進方向性を評価することで、経営側の投資判断をし易くします。 □講演資料 |
